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Manfred Grasserbauer

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Cover of Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie

Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie

Manfred Grasserbauer · First published 2011

Cover of Angewandte Oberflächenanalyse Mit SIMS, AES und XPS

Angewandte Oberflächenanalyse Mit SIMS, AES und XPS

Manfred Grasserbauer, Hans Joachim Dudek, Maria F. Ebel · First published 1986