Anwendbarkeit der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) zur Untersuchung der Fremddiffusion, dargestellt am Beispiel der Volumendiffusion von In und Al in Ni-Einkristallen und der Korngrenzendiffusion von In in orientierten Ni-ZweikristallenMichael B. Hintz · First published 1979Open the Tome
